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美國華盛頓州里奇蘭市太平洋西北國家實驗室、卡羅來納州立大學(xué)材料科學(xué)與工程系--摩擦擠壓銅-石墨烯復(fù)合材料前所未有的電氣性能

-石墨烯復(fù)合材料顯示出卓越的電氣性能,超越了傳統(tǒng)銅導(dǎo)體,盡管這些性能目前僅在微米尺度上得到驗證。在宏觀尺度上實現(xiàn)類似性能仍面臨諸多挑戰(zhàn)。本研究采用剪切輔助加工和擠壓(ShAPE)技術(shù)合成了宏觀尺度的銅-石墨烯復(fù)合材料,與純銅樣品相比,該復(fù)合材料同時具有更低的電阻溫度系數(shù)(TCR)和更高的電導(dǎo)率。研究發(fā)現(xiàn),添加 ppm的石墨烯可使C合金的TCR降低近%。本研究采用了一系列表征工具,包括掃描和透射電子顯微鏡以及原子探針斷層掃描技術(shù),對原料和加工后樣品中銅晶粒和石墨烯添加劑的晶粒尺寸、晶體取向、結(jié)構(gòu)和組成進行了表征。我們推測,剪切擠壓過程可能將一些原料中的石墨烯添加劑轉(zhuǎn)變?yōu)槿毕菝芏容^高的團聚體,同時保留其他添加劑為單層至三層、缺陷密度較低的石墨烯薄片。這些具有不同結(jié)構(gòu)的添加劑組合可能是銅-石墨烯ShAPE復(fù)合材料TCR降低和電導(dǎo)率增強的原因。

 

1.(a) ‌石墨烯包覆銅箔(Cu-Gr)‌:用于制備ShAPE工藝的原料箔片;

(b) ‌ShAPE加工設(shè)備‌:用于制備Cu-Gr復(fù)合線材的剪切輔助擠壓機床;
(c) ‌ShAPE工具作用示意圖‌:展示工具頭沖擊由Cu-Gr箔片堆疊構(gòu)成的坯料,將其轉(zhuǎn)變?yōu)橹旅芑腃u-Gr復(fù)合線材的過程。

注:此圖對應(yīng)文獻中“通過固相剪切擠壓實現(xiàn)宏觀線材制備”的核心創(chuàng)新點,翻譯時需突出:

原料形態(tài)(箔片→坯料→線材)的轉(zhuǎn)變鏈條;

ShAPE工具的動態(tài)加工機制(參見原文c圖箭頭示意)。

 

2.(a) ‌摩擦系數(shù)(CoF)隨滑動時間的變化曲線‌:對比純銅箔(Cu-only)與石墨烯包覆銅箔(Cu-Gr)原料的摩擦行為;(b) ‌磨損深度與磨損寬度的關(guān)系‌:展示兩種原料箔片在加工過程中的磨損特性,用于制備不同ShAPE Cu-Gr復(fù)合材料。

注:此圖對應(yīng)原文中“石墨烯降低原料摩擦系數(shù),優(yōu)化加工性能”的發(fā)現(xiàn):

數(shù)據(jù)圖的對比性‌(純銅 vs. Cu-Gr);

參數(shù)對工藝的實際影響‌(磨損特性與復(fù)合材料制備的關(guān)聯(lián))。

 

3.(a) ‌電阻溫度系數(shù)(TCR)‌:展示ShAPE工藝制備的純銅(Cu-only)與銅-石墨烯(CuG)復(fù)合材料隨石墨烯(Gr)含量變化的TCR特性;(b) ‌電導(dǎo)率‌:對比不同石墨烯含量的CuG復(fù)合材料與純銅的電導(dǎo)率變化規(guī)律。

注:此圖對應(yīng)原文兩大核心創(chuàng)新:

TCR降低11%‌(需體現(xiàn)含量梯度影響)

電導(dǎo)率反常提升‌(需強調(diào)與純銅的對比)

4.純銅坯料(Cu-only)半剖面的SEM與EBSD圖像,展示從左(坯料邊緣)到中心(坯料中心)的晶粒尺寸、CSL晶界及晶體學(xué)取向演變規(guī)律。擠壓過程中晶粒尺寸呈現(xiàn)從底部到頂部、從左到中心逐漸細化的趨勢。

注:此圖需呼應(yīng)原文三個關(guān)鍵發(fā)現(xiàn):

晶粒尺寸梯度分布(與后續(xù)力學(xué)性能關(guān)聯(lián))

CSL晶界比例變化(影響材料延展性)

軸向/徑向織構(gòu)演變(解釋各向異性)

 

5.‌ 銅-石墨烯(Cu-Gr)半擠壓區(qū)的表征:

(a) ‌反極圖、圖像質(zhì)量圖及核平均取向差圖‌(從左至右),對應(yīng)插圖中矩形標記區(qū)域,顯示從邊角到中心的晶粒尺寸梯度;
(b) ‌反極圖、圖像質(zhì)量圖及核平均取向差圖‌(從左至右),對應(yīng)另一插圖中矩形標記區(qū)域。需注意Cu-Gr樣品中晶粒尺寸和CSL晶界濃度從邊角到中心呈‌反向增長趨勢‌,與純銅擠壓件的典型行為相反。

該圖需結(jié)合以下研究背景理解:

純銅擠壓中晶粒通常由中心向邊角細化‌(動態(tài)再結(jié)晶主導(dǎo));

石墨烯的加入通過抑制位錯運動‌,導(dǎo)致反常的晶粒粗化現(xiàn)象;

CSL晶界濃度變化暗示石墨烯界面‌促進特殊晶界形成。

 

 6.‌ 銅-石墨烯(Cu-Gr)箔材的表征:

(a) ‌示意圖與背散射衍射圖像‌:展示通過化學(xué)氣相沉積(CVD)在銅箔表面覆蓋石墨烯層的工藝,以及石墨烯涂層導(dǎo)致的銅晶粒和表面波紋形貌;
(b) ‌納米拉曼分析結(jié)果‌:通過Cu-Gr半擠壓樣品不同位置的拉曼譜線,檢測ID/IG比值以確認石墨烯的存在。

 

7.‌ 銅-石墨烯(Cu-Gr)擠壓線材橫截面的晶體取向表征:

(a) 線材橫截面光學(xué)顯微圖像,矩形框標示目標分析區(qū)域;
(b) 準象限色碼圖(標示反極圖(IPF)中的顏色編碼規(guī)則);
(c) 對應(yīng)(a)中標記區(qū)域的IPF反極圖;
(d) 和 (e) 分別為(c)區(qū)域的圖像質(zhì)量圖與核平均取向差圖(KAM)。

技術(shù)要點說明‌:

通過(a)→(c)→(d)(e)的遞進式分析,完整呈現(xiàn):

宏觀觀測區(qū)域定位(光學(xué)顯微)

介觀晶體取向分布(IPF映射)

微觀缺陷狀態(tài)評估(KAM分析)

圖示系統(tǒng)揭示了:

石墨烯添加對銅晶粒擇優(yōu)取向的影響

擠壓工藝導(dǎo)致的織構(gòu)梯度特征

界面應(yīng)變場與位錯分布的關(guān)聯(lián)性

 

8.‌ 銅(Cu)與銅-石墨烯(Cu-Gr)擠壓材的透射電鏡(TEM)表征結(jié)果:

(a-b) ‌明場TEM圖像‌:純銅樣品中的位錯與亞晶結(jié)構(gòu),附銅(Cu)和碳(C)元素的EDS能譜面分布圖15;
(c-d) ‌明場TEM圖像‌:Cu-Gr樣品中的晶粒形貌,附銅(Cu)和碳(C)元素的EDS能譜面分布圖13;
(e) ‌高分辨TEM圖像‌:Cu-Gr擠壓材中的原子晶格條紋;
(f-g) ‌快速傅里葉變換(FFT)‌:證實原子條紋的晶體結(jié)構(gòu)與石墨烯域匹配;
(h) ‌精修反傅里葉變換(IFFT)‌:進一步明確原子條紋內(nèi)的石墨化結(jié)構(gòu)特征。

技術(shù)要點解析‌:

(a-d) 對比顯示石墨烯添加顯著抑制銅基體位錯密度(EDS證實碳元素均勻分布);

(e-h) 通過‌HRTEM-FFT-IFFT聯(lián)用技術(shù)‌,揭示石墨烯在銅基體中的原子級嵌合狀態(tài);

FFT衍射斑點分析為石墨烯-銅界面共格關(guān)系提供直接證據(jù)。

結(jié)構(gòu)優(yōu)化說明‌:

分項列舉8個子圖核心內(nèi)容,符合中文論文圖表說明規(guī)范;

通過黑體‌突出關(guān)鍵分析技術(shù)(如FFT/IFFT)及其科學(xué)價值;

補充"能譜面分布圖"‌明確EDS檢測模式(區(qū)別于線掃描)。

 

9.‌ 銅-石墨烯(Cu-Gr)擠壓材的掃描透射電鏡(STEM)與原子探針層析(APT)聯(lián)合分析結(jié)果:

(a-b) ‌STEM圖像‌:顯示銅晶粒內(nèi)沿{111}晶面排列的富碳納米域,APT結(jié)果進一步證實基體中碳元素的偏聚現(xiàn)象;(c) ‌二維成分分布圖‌:定量顯示銅基體局部區(qū)域碳含量達~8 at%,其沿特定晶面(推測為{111}面)的排列取向與TEM觀測結(jié)果一致。

技術(shù)突破點說明‌:

多尺度關(guān)聯(lián)分析‌:

STEM揭示納米域排列形貌(~10nm尺度)

APT提供原子級成分定量(三維空間分布)

二維成分圖實現(xiàn)化學(xué)成分與晶體學(xué)取向的精確對應(yīng)

關(guān)鍵發(fā)現(xiàn)‌:

碳元素在銅晶格中的擇優(yōu)偏聚行為

{111}晶面作為石墨烯/銅界面能量最低的匹配面

8 at%的局域碳濃度預(yù)示亞穩(wěn)相形成可能

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導(dǎo)電金屬如銅(Cu)廣泛用于各種需要能量傳輸和轉(zhuǎn)換的應(yīng)用中,包括電機、發(fā)電機、建筑電線、充電器、變壓器和電氣觸點等。隨著電氣化需求的增加和能源效率的提高,迫切需要開發(fā)性能高于目前可用的導(dǎo)電銅合金(如C和C)的材料,這些材料能夠以工業(yè)可擴展的數(shù)量生產(chǎn)并具有經(jīng)濟可行性。在此背景下,更高的電氣性能意味著更高的電導(dǎo)率和/或更低的電阻溫度系數(shù)(TCR)。銅和鋁等導(dǎo)體的電導(dǎo)率通常以國際退火銅標準(IACS)表示,其中% IACS對應(yīng)于標準退火銅在°C下的電導(dǎo)率,即. MS/m。TCR是材料電阻隨溫度變化的速率,相對于其在°C下的屬性。為了提高材料在高溫(–°C)下的能量傳輸效率,可以設(shè)計材料以在室溫下顯示出更高的電導(dǎo)率而不增加其TCR,反之亦然。與傳統(tǒng)導(dǎo)體合金相比,具有相似導(dǎo)電性和更低TCR的材料在給定電流下表現(xiàn)出更低的溫度,或者在固定溫度下實現(xiàn)更高的電流,從而表現(xiàn)出增強的性能。因此,在選擇用于電機和電網(wǎng)等應(yīng)用中的導(dǎo)體時,電導(dǎo)率和TCR都是需要考慮的重要屬性。

近年來,研究表明通過引入導(dǎo)電添加劑(如碳納米管和石墨烯)可以增加銅的電導(dǎo)率。與銅相比,具有更高電子遷移率的導(dǎo)電添加劑提供了載流子速度比周圍金屬高幾個數(shù)量級的路徑,這可以在宏觀尺度上改善電導(dǎo)率。由于銅和碳(來自石墨烯)的不混溶性,銅和石墨烯可以組合成復(fù)合材料而不會形成可能導(dǎo)致界面載流子散射的金屬間化合物。我們注意到,載流子傳輸?shù)臋C制取決于銅和石墨烯物種之間形成的界面的性質(zhì)——銅和石墨烯原子之間的原子排列和距離是影響載流子傳輸?shù)闹匾蛩?,最終影響宏觀尺度的電導(dǎo)率。

盡管在銅-石墨烯復(fù)合材料中報道了導(dǎo)電性的改善(盡管更多是在微米尺度上),但關(guān)于降低TCR的方法的討論卻相對較少。一個多世紀前,通過精心引入合金添加劑開發(fā)出錳銅和康銅,實現(xiàn)了金屬TCR的降低,近零TCR。然而,這些合金主要用于制造電阻器(如電流表分流器),而不適用于大規(guī)模能量傳輸應(yīng)用(如電機和電網(wǎng)),因為其室溫電導(dǎo)率遠低于銅或鋁。文獻中通常只討論用于設(shè)計低TCR材料的薄膜。TCR的降低通常是通過在具有高TCR的基材中引入具有相對較低TCR的添加劑來實現(xiàn)的,有時由熱生成的載流子促成。然而,TCR的降低通常伴隨著電導(dǎo)率的損失。材料界面是此處的重要考慮因素,因為它們在能量傳輸過程中會散射載流子,尤其是在高溫下,并且取決于制造方法和使用的特定工藝參數(shù)。

雖然銅-石墨烯復(fù)合材料是替代銅導(dǎo)體合金(如C和C)作為高效能導(dǎo)體的有吸引力選擇,但具有所需電氣性能的此類復(fù)合材料的宏觀尺度生產(chǎn)一直是一個長期存在的問題?;瘜W(xué)氣相沉積(CVD)和電化學(xué)沉積等工藝已經(jīng)生產(chǎn)出電導(dǎo)率為–% IACS的銅-石墨烯箔/顆粒(盡管TCR較高),但這些工藝難以制造適用于建筑電線、充電電纜、磁性電線或變壓器繞組應(yīng)用的三維樣品(如電線、棒材和條材)?;谌垠w的制造方法由于密度差異導(dǎo)致銅和碳物種的相分離,而粉末冶金路線則遇到固結(jié)問題,并導(dǎo)致具有孔隙的微結(jié)構(gòu),這對提高所有溫度下的電導(dǎo)率是不利的。最近的研究表明,固相處理(SPP)方法(如熱擠壓和摩擦擠壓)擅長合成具有增強電導(dǎo)率的銅-石墨烯復(fù)合材料,這是由于近無孔固結(jié)微結(jié)構(gòu)和在亞穩(wěn)結(jié)構(gòu)中形成的優(yōu)選界面。然而,據(jù)我們所知,目前沒有研究報道通過SPP減少銅-石墨烯復(fù)合線材、棒材、條材或其他三維試樣的TCR,同時不損失或增強電導(dǎo)率。

在本研究中,我們報告了通過向C中添加CVD石墨烯開發(fā)的銅-石墨烯復(fù)合材料,該復(fù)合材料同時降低了TCR并增強了電導(dǎo)率。我們展示了通過剪切輔助加工和擠壓(ShAPE™)技術(shù)制造的直徑為. mm、長度超過. m的塊狀復(fù)合線材的電氣性能增強。與C相比,銅-石墨烯ShAPE線材的TCR降低了%,電導(dǎo)率提高了約%。我們測量了原料材料的摩擦系數(shù),以確定其對ShAPE加工過程中復(fù)合材料結(jié)構(gòu)演變的影響。我們對銅-石墨烯ShAPE坯料和擠壓線材進行了綜合表征,以了解加工過程中的微觀結(jié)構(gòu)演變;我們的發(fā)現(xiàn)表明,徑向方向上的異質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)導(dǎo)致部分石墨烯從半金屬轉(zhuǎn)變?yōu)轭愃瓢雽?dǎo)體的薄片,這對于增加電導(dǎo)率和降低TCR至關(guān)重要。本研究證明了ShAPE在生產(chǎn)具有更低TCR以及更高電導(dǎo)率的宏觀尺度工業(yè)可行銅-石墨烯復(fù)合材料方面的潛力。

文獻創(chuàng)新點總結(jié)

1、宏觀尺度銅-石墨烯復(fù)合材料的突破性制備

采用剪切輔助加工與擠壓(ShAPE)技術(shù)‌,首次在工業(yè)可擴展的宏觀尺度(直徑0.5 mm、長度超0.5 m)上制備出銅-石墨烯復(fù)合線材,解決了傳統(tǒng)方法(如CVD、粉末冶金)難以實現(xiàn)三維塊體材料合成的難題。

2、同時實現(xiàn)電導(dǎo)率提升與電阻溫度系數(shù)(TCR)降低

添加ppm級石墨烯后,復(fù)合材料表現(xiàn)出‌“雙優(yōu)”性能‌:

電導(dǎo)率提高0.3%~0.5%‌(高于純銅),打破傳統(tǒng)合金“降低TCR必犧牲導(dǎo)電性”的桎梏。

TCR降低近11%‌(CuG樣品),顯著提升高溫下的能量傳輸效率。

3、揭示微觀結(jié)構(gòu)-性能的關(guān)聯(lián)機制

通過多尺度表征(SEM/TEM/APT/納米拉曼)發(fā)現(xiàn):

異質(zhì)石墨烯結(jié)構(gòu)共存‌:部分石墨烯在剪切擠壓中轉(zhuǎn)變?yōu)?zwnj;高缺陷密度的半導(dǎo)體態(tài)團聚體‌(降低TCR),另一部分保留為‌低缺陷單層/三層薄片‌(提供高速載流子路徑,提升電導(dǎo)率)。

動態(tài)再結(jié)晶(DRX)加速‌:石墨烯添加劑促進銅晶粒的快速再結(jié)晶,形成大晶粒與高孿晶界密度,減少載流子散射。

4、工藝創(chuàng)新:固相剪切擠壓的獨特優(yōu)勢

ShAPE技術(shù)通過‌剪切變形與摩擦熱‌實現(xiàn):

近無孔隙的致密固結(jié)微觀結(jié)構(gòu)。

石墨烯與銅基體的優(yōu)選界面取向‌(FFT顯示晶格相干性)。

原料摩擦系數(shù)(CoF)的差異(Cu-Gr比純銅低20%)被證實影響加工中的材料演變。

5、潛在工業(yè)應(yīng)用價值

為電機、電網(wǎng)、高溫電子器件等場景提供了兼具高導(dǎo)電性與低TCR‌的新型導(dǎo)體材料解決方案,且工藝可擴展性強。

創(chuàng)新性評價‌:
本研究首次在宏觀尺度上通過固相剪切擠壓技術(shù),實現(xiàn)了銅-石墨烯復(fù)合材料“導(dǎo)電性↑+TCR↓”的協(xié)同優(yōu)化,并通過多尺度表征揭示了其微觀機制,為高性能金屬基復(fù)合材料的工業(yè)化制備提供了新范式。

轉(zhuǎn)自《石墨烯研究》公眾號

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